Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

Origin, Characterization, Control, and Device Impact

Gebonden

€ 163,70

Afwijkende levertijd: 20-22 werkdagen
Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

Gebonden

€ 163,70

Nieuwe boeken gratis bezorgd t/m 31-12-2021 naar NL*
Altijd de laagste prijs voor nieuwe Nederlandstalige boeken
Verlengde retourtermijn: ruilen of retourneren t/m 10 januari 2022
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad

material science, defect engineering, device processing, defect and device characterization, and device physics and engineering.
ISBN
9783319939247
Vorm
Gebonden
Uitgever
Springer International Publishing AG
Druk
1e
Verschenen
01-01-2018
Taal
Engels
Pagina's
438 pp.
Genre
Literaire fictie
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbooks3 : libris