Characterization Methods for Submicron MOSFETs

Hisham Haddara Taal: Engels

Paperback

€ 139,70

Dit artikel kunt u momenteel niet bestellen. Mogelijk is het wel op voorraad bij een van de aangesloten boekhandels. Bekijk de winkelvoorraad hieronder ↓
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad
Ik wil advies
Vraag de boekhandel

The need for more deep and extensive characterization of MOSFET param eters has further increased as the applications of this device have gained ground in many new fields in which its performance has become more and more sensi tive to the properties of its Si - Si0 interface.
ISBN
9781461285847
Vorm
Paperback
Uitgever
Springer-Verlag New York Inc.
Druk
1e
Verschenen
26-09-2011
Taal
Engels
Pagina's
232 pp.
Genre
Technische wetenschappen
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbooks2 : libris