Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Third Edition

Paperback

€ 99,00

Afwijkende levertijd: 46 - 48 werkdagen.
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Paperback

€ 99,00

Nieuwe boeken gratis bezorgd vanaf € 17,50 naar NL*
Altijd de laagste prijs voor nieuwe Nederlandstalige boeken
Ruilen of retourneren binnen 14 dagen
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
ISBN
9781461349693
Vorm
Paperback
Uitgever
Springer-Verlag New York Inc.
Druk
1e
Verschenen
01-01-2013
Taal
Engels
Pagina's
689 pp.
Genre
Algemeen
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbooks3 : libris