IDDQ Testing of VLSI Circuits

Paperback

€ 125,00

Dit artikel kunt u momenteel niet bestellen. Mogelijk is het wel op voorraad bij een van de aangesloten boekhandels. Bekijk de winkelvoorraad hieronder ↓
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad
Ik wil advies
Vraag de boekhandel

Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.
ISBN
9781461363774
Vorm
Paperback
Uitgever
Springer-Verlag New York Inc.
Druk
1e
Verschenen
12-10-2012
Taal
Engels
Pagina's
124 pp.
Genre
Technische wetenschappen
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbooks2 : libris