Oberflachenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS
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Samenvatting
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Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.Specificaties
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ISBN
9783824420919
Genre
Verschenen
01-01-1997
Bindwijze
Paperback
Pagina's
138 pagina's
Druk
1e
Taal
Duits
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