High-Resolution X-Ray Scattering

From Thin Films to Lateral Nanostructures

Gebonden

€ 120,05

Afwijkende levertijd: 10-12 werkdagen
High-Resolution X-Ray Scattering

Gebonden

€ 120,05

Nieuwe boeken gratis bezorgd vanaf € 17,50 binnen NL*
Altijd de laagste prijs voor nieuwe Nederlandstalige boeken
Ruilen of retourneren binnen 14 dagen
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.
ISBN
9780387400921
Vorm
Gebonden
Uitgever
Springer-Verlag New York Inc.
Druk
1e
Verschenen
01-01-2004
Taal
Engels
Pagina's
408 pp.
Genre
Geografie & Landbouw
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbooks2 : libris