Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
0 Recensies
Gebonden
€ 139,70
Nieuwe boeken gratis bezorgd vanaf € 17,50 naar NL*
Altijd de laagste prijs voor nieuwe Nederlandstalige boeken
Ruilen of retourneren binnen 14 dagen
Samenvatting
Samenvatting
The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.Specificaties
Specificaties
ISBN
9783030156114
Genre
Verschenen
01-01-2019
Bindwijze
Gebonden
Pagina's
408 pagina's
Druk
1e
Taal
Engels
Uitgever
Auteur(s)
Recensies (0)
Recensies (0)
Geen recensies beschikbaar.
