Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

Umberto Celano Taal: Engels

Gebonden

€ 139,70

Afwijkende levertijd: 46 - 48 werkdagen.
Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

Gebonden

€ 139,70

Nieuwe boeken gratis bezorgd vanaf € 17,50 naar NL*
Altijd de laagste prijs voor nieuwe Nederlandstalige boeken
Ruilen of retourneren binnen 14 dagen
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad

The tremendous impact of electronic devices on our lives is the result of continuous improvements of the billions of nanoelectronic components inside integrated circuits (ICs). This book reviews the latest progress in IC devices, with emphasis on the impact of electrical atomic force microscopy (AFM) techniques for their development.
ISBN
9783030156114
Verschenen
01-01-2019
Bindwijze
Gebonden
Pagina's
408 pagina's
Druk
1e
Taal
Engels
Auteur(s)
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbooks3 : libris