Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications III

niet bekend Taal: Engels

Paperback

€ 161,30

Dit artikel kunt u momenteel niet bestellen. Mogelijk is het wel op voorraad bij een van de aangesloten boekhandels. Bekijk de winkelvoorraad hieronder ↓
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad
Ik wil advies
Vraag de boekhandel

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.
ISBN
9781628413496
Vorm
Paperback
Uitgever
SPIE Press
Druk
1e
Verschenen
28-02-2015
Taal
Engels
Pagina's
277 pp.
Genre
Technische wetenschappen
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbooks2 : libris