Rapid Reliability Assessment of VLSICs

A.P. Dorey ; etc. Taal: Engels

Gebonden

€ 99,00

Dit artikel kunt u momenteel niet bestellen. Mogelijk is het wel op voorraad bij een van de aangesloten boekhandels. Bekijk de winkelvoorraad hieronder ↓
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad
Ik wil advies
Vraag de boekhandel

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.
ISBN
9780306434921
Verschenen
01-01-1990
Bindwijze
Gebonden
Pagina's
212 pagina's
Druk
1e
Taal
Engels
Auteur(s)
Geen recensies beschikbaar.
Je hebt recent geen producten bekeken
pro-mbooks3 : libris