Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

HNATEK, Eugene R. Taal: Engels

Gebonden

€ 163,65

Afwijkende levertijd: 20-22 werkdagen.
Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective

Gebonden

€ 163,65

Boeken gratis bezorgd vanaf € 15,- binnen NL en BE
Altijd de laagste prijs voor nieuwe Nederlandstalige boeken
Ruilen of retourneren binnen 14 dagen
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad

ISBN
9780442006433
Vorm
Gebonden
Uitgever
Springer US
Druk
1e
Verschenen
01-01-1993
Taal
Engels
Pagina's
194 pp.
Genre
Technische wetenschappen
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbookslibr1 : libris