Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Umberto Celano Taal: Engels

Gebonden

€ 130,95

Afwijkende levertijd: 10-12 werkdagen
Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices

Gebonden

€ 130,95

Nieuwe boeken gratis bezorgd vanaf € 17,50 binnen NL*
Altijd de laagste prijs voor nieuwe Nederlandstalige boeken
Ruilen of retourneren binnen 14 dagen
Koop lokaal, ook online!
Bekijk winkelvoorraad

This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM.
ISBN
9783319395302
Vorm
Gebonden
Uitgever
Springer International Publishing AG
Druk
1e
Verschenen
01-01-2016
Taal
Engels
Pagina's
175 pp.
Genre
Literaire fictie
Geen recensies beschikbaar.
pro-mbooks2 : libris